探針卡MLO — 測試良率的關鍵
Probe Card MLO (多層有機載板) 在先進晶片測試中扮演關鍵角色,需要具備高層數與厚疊結構,優異的電性連接能力、能承受高頻與高電流的傳輸特性,以及足以抵抗反覆壓針造成機械疲勞的多層結構強度。這些結構與電性要求,使 Probe Card MLO 成為半導體測試領域中最具挑戰性、也最關鍵的核心載板基礎。
